Монографія присвячена рентгеноструктурному аналізу як методу визначення кристалічних структур різних матеріалів. Розглянуто природу рентгенівського випромінювання та його одержання з використанням різних джерел. Наведено інформацію про рентгенівські апарати, типи гоніометрів та детекторів, які використовуються для реєстрації рентгенівських променів. Описано структуру та симетрію кристалів, елементарні комірки, різні типи симетрії кристалів та точкові групи симетрії. Висвітлюється взаємодія рентгенівських променів з матеріалами, аналізуються рентгенівські спектри та розглядається розсіяння рентгенівських променів. Також описані погасання рентгенівських променів та формула інтенсивності для дифрагованих рентгенівських променів. Методи визначення та уточнення кристалічних та молекулярних структур охоплюють важливі аспекти досліджень у цій області, зокрема описано загальну стратегію визначення молекулярних структур. Також розглянуто основні етапи рентгеноструктурного дослідження.